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圭表测影与帝国文化 期刊论文
中国科技史杂志, 2011, 卷号: 32, 期号: s1, 页码: 131-141
Authors:  黎耕;  孙小淳
Adobe PDF(600Kb)  |  Favorite  |  View/Download:275/62  |  Submit date:2013/03/19
圭表测影  帝国文化  陶寺地中  千里差一寸历法